产品介绍：

聚焦离子束（FIB）和“双束”科技
聚焦离子束的工作原理与扫描电镜相似，只是电子枪换成镓离子源（ga+）,扫描电镜镜筒更换为离子镜筒，与扫描电镜相比，聚焦离子束具有特殊的“加工”性能，由于离子束的动能远远大于电子束，离子束对样品表面会形成“切割”作用。
与扫描电镜二次电子等信号成像相似，FIB可采用二次电子，可进行能谱分析。另外，FIB还可以采用二次离子成像，采用二次离子质谱进行元素分析。
FIB中成像原理包括：形貌衬度成像，电位衬度成像和离子通道衬度成像
样品切割功能：

可对半导体样品进行3D观察分析，或制备透射电镜样品。

如您有用应用聚焦离子束的需要，欢迎联系我们！
深圳市华丛科技有限公司
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